當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > 沖擊箱 > 3AP-CJ-80C5電模塊交變循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
簡要描述:電模塊交變循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是模擬產(chǎn)品在高溫沖擊、低溫沖擊或高低溫瞬間沖擊變化的條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),對工業(yè)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試。適用于光電、LED、電器、電子材料、各種元器件、工業(yè)產(chǎn)品零部件或成品、金屬材料等產(chǎn)品在。
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品牌 | 愛佩科技 | 分類 | 沖擊試驗(yàn)箱 |
---|---|---|---|
內(nèi)箱材質(zhì) | 不銹鋼 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
電模塊交變循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),對電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測試或試驗(yàn),大概詳情如下:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價(jià)電子產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2.生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;
3.對電子產(chǎn)品的定型進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;
4.暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改進(jìn)電子產(chǎn)品的可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
電模塊交變循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)如下:
標(biāo)準(zhǔn)沖擊箱內(nèi)箱尺寸大小可選擇:
容積27升對應(yīng)的:寬30x高30x深30cm;
容積50升對應(yīng)的:寬36x高35x深40cm;
容積80升對應(yīng)的:寬50x高40x深40cm;
容積100升對應(yīng)的:寬60x高40x深40cm;
容積150升對應(yīng)的:寬60x高50x深50cm;
容積250升對應(yīng)的:寬70x高60x深60cm;
溫度范圍:低溫(A:-40;B:-55;D:-65)~高溫+150℃
高溫發(fā)熱區(qū)高溫度:+60℃~+200℃
低溫制冷區(qū)低溫度:-10℃~-75℃;
升溫時(shí)間(高溫發(fā)熱區(qū)) :RT~200℃約需35min
降溫時(shí)間(低溫制冷區(qū)) :RT~-70℃約需85min
溫度恢復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤5min內(nèi)/≤10sec內(nèi)
溫度控制精度/分布精度:±0.5℃/±2.0℃
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