節(jié)能型高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱主要為電子零件、工業(yè)材料、成品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定濕熱，復(fù)雜高低溫交變等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件。適用于：電子電器、通訊、化工、五金、橡膠、玩具、科研、航天、建材等各行業(yè)。

節(jié)能型高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是由控溫（低溫制冷、高溫加熱、）和加濕兩部分組成。讓安裝在試驗(yàn)箱頂部的風(fēng)扇旋轉(zhuǎn)，將外部空氣進(jìn)入箱體以實(shí)現(xiàn)空氣循環(huán)、平衡箱體內(nèi)的溫、濕度，由測(cè)試箱內(nèi)的溫、濕度傳感器采集的數(shù)據(jù)傳導(dǎo)至溫濕度控制器。采用計(jì)算機(jī)技術(shù)對(duì)環(huán)境溫度、濕度進(jìn)行測(cè)量和控制進(jìn)行編輯處理，下達(dá)實(shí)驗(yàn)所需數(shù)值，通過(guò)空氣加熱單元、冷凝管以及蒸發(fā)單元、復(fù)疊式制冷壓縮機(jī)的共同完成。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)